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The flip side of designing for testability

Bertolino A;
1995

Abstract

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1995
Istituto di Scienza e Tecnologie dell'Informazione "Alessandro Faedo" - ISTI
Inglese
IEEE SOFTWARE
12
5
12
13
2
Sì, ma tipo non specificato
Flip
Testing and Debugging
Codice PuMa: /cnr.iei/1995-A0-011
1
info:eu-repo/semantics/article
262
Bertolino A.; Strigini L.
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
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01.01 Articolo in rivista
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Descrizione: The flip side of designing for testability
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