CNR Institutional Research Information System

Single atom detection through HAADF-STEM and EELS/EDX characterization of fluorophore Ru(bpy)32+ for optical DNA-chip applications

Nicotra G;Bongiorno C;Libertino S
2015
2015
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Ruthenium
HRTEM
sensing
04.02 Abstract in Atti di convegno
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