CNR Institutional Research Information System

Single atom detection through HAADF-STEM and EELS/EDX characterization of fluorophore Ru(bpy)32+ for optical DNA-chip applications

Nicotra G;Bongiorno C;Libertino S
2015
2015
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Inglese
Microscopy & microanalysis 2015
21
1429
1430
http://www.scopus.com/record/display.url?eid=2-s2.0-85065424169&origin=inward
02/08/2015,06/08/2015
Ruthenium
HRTEM
sensing
2-s2.0-85065424169
7
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
none
274
04 Contributo in convegno::04.02 Abstract in Atti di convegno
Nicotra, G; Sciuto, E L; Santangelo, M F; Villaggio, G; Sinatra, F; Bongiorno, C; Libertino, S
04.02 Abstract in Atti di convegno
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