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We use XPS techmiqes to evaluate how x ray radiation affects the chemistri co copper-based materials

X-RAY-INDUCED REDUCTION EFFECTS IN THE K-EDGE SPECTRA OF SOME CU-2+-CONTAINING MATERIALS

PAPARAZZO E;
1982

Abstract

We use XPS techmiqes to evaluate how x ray radiation affects the chemistri co copper-based materials
1982
Inglese
WOS:A1982PY21700019
12
352
353
2
Sì, ma tipo non specificato
XPS
x ray synchrotron absorption
copper materials
4
info:eu-repo/semantics/article
262
Alagna, L; Paparazzo, E; Prosperi, T; Tomlinson, Aag
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
none
01.01 Articolo in rivista
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/404650
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