Comparative analysis of various quantitative methods applied to XPS spectroscopy

QUANTITATIVE SURFACE-ANALYSIS BY XPS - A COMPARISON AMONG DIFFERENT QUANTITATIVE APPROACHES

BATTISTONI C;PAPARAZZO E
1985

Abstract

Comparative analysis of various quantitative methods applied to XPS spectroscopy
1985
XPS
quantitative analysis
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/404706
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