Synchrotron radiation photoemission study of H2 adsorption of silica surfaces and interfaces
EFFECT OF HYDROGEN ON SIOX AND SIOX-SI INTERFACE
PAPARAZZO E;
1987
Abstract
Synchrotron radiation photoemission study of H2 adsorption of silica surfaces and interfacesFile in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
