XPS AND AES STUDIES OF SURFACE MODIFICATIONS INDUCED BY ION BOMBARDMENT

Photoemission and Auger electron spectroscopy studies of the chemical modifications induced by Ar ion etching and x-ray irradiation at the surface of oxides

PAPARAZZO E
1990

Abstract

XPS AND AES STUDIES OF SURFACE MODIFICATIONS INDUCED BY ION BOMBARDMENT
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/406947
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