XPS STUDIES WHICH DOCUMENT THE PRESESENCE OF HYDTRATION AND CHEMICAL REDUCTION AT THE SURFACE OF MATERIALS

Photoemission studies of oxides: X-ray irradiation effects on CeO2 surfaces, and evidence of Si-OH bonding states in silica

PAPARAZZO E
1991

Abstract

XPS STUDIES WHICH DOCUMENT THE PRESESENCE OF HYDTRATION AND CHEMICAL REDUCTION AT THE SURFACE OF MATERIALS
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/406948
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