CNR Institutional Research Information System

Loss budget of a setup for measuring mechanical dissipations of silicon wafers between 300K and 4K

M Bonaldi;
2008
2008
Istituto di fotonica e nanotecnologie - IFN
79
033901
1
info:eu-repo/semantics/article
262
J. P. Zendri; M. Bignotto; M. Bonaldi; M. Cerdonio; L. Conti; L. Ferrario; N. Liguori; A. Maraner; E. Serra;L. Taffarello
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none
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