Characterization of a Novel and Widely-Tunable Yb:KYF4 Laser for Optical Frequency Metrology

G Galzerano;P Laporta;E Sani;
2007

2007
Istituto di fotonica e nanotecnologie - IFN
Instrumentation and Measurement Technology Conference Proceedings
Sì, ma tipo non specificato
Instrumentation and Measurement Technology Conference Proceedings, 2007 IEEE 1-3 May 2007, p. 4258421
3
none
G. Galzerano; P. Laporta; E. Sani; L. Bonelli; A. Toncelli; M. Tonelli; M. Norgia; A. Pesatori; C. Svelto
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
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