CNR Institutional Research Information System

Impact of correlated generation of oxide defects on SILC and breakdown distributions

2004
2004
Istituto di fotonica e nanotecnologie - IFN
51
1281
1287
4
info:eu-repo/semantics/article
262
Ielmini, D; S Spinelli, A; L Lacaita, A; J van Duuren, M
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
none
01.01 Articolo in rivista
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