EXAFS and XRD studies with subpicometer accuracy: the case of ReO3.

F Rocca
2007

2007
Istituto di fotonica e nanotecnologie - IFN
882
422
424
Sì, ma tipo non specificato
EXAFS
XRD
Re03
Thermal expansion
Cumulants
PACS: 63.20.- e, 65.70.+ y, 78.70.Dm CP882, X-ray Absorption Fine Structure—XAFS 13 edited by B. Hedman and P. Pianetta © 2007 American Institute of Physics 978-0-7354-0384-0/07/$23.00
1
info:eu-repo/semantics/article
262
J. Purans; G. Dalba;P. Fornasini; A. Kuzmin; S. De Panfilis;F. Rocca
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
none
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