This paper describes a method for calculating the phase profile of digitized interferograms obtained from a phase shifting interferometer. A phase-retrieval algorithm is presented, which uses total least-squares fitting of the ellipses obtained when one of the intensity profiles is plotted against the others. Propagation of error analysis and experimental results are also given.

Retrieval of the phase profile of digitized interferograms

2003

Abstract

This paper describes a method for calculating the phase profile of digitized interferograms obtained from a phase shifting interferometer. A phase-retrieval algorithm is presented, which uses total least-squares fitting of the ellipses obtained when one of the intensity profiles is plotted against the others. Propagation of error analysis and experimental results are also given.
2003
IMGC - Istituto di metrologia "Gustavo Colonnetti"
5
418
424
metrologia
interferometria
ottica
metodi matematici
L'articolo in oggetto è essenzialmente teorico-computazionale, ma saldamente ancorato ad una precisa esigenza di accuratezza nella misurazione del parametro reticola del silicio di cui IMGC è responsabile nel quadro di un accordo di collaborazione internazionale per una realizzazione del kilogrammo basata sulla massa dell'atomo di silicio 28. L'algoritmo descritto può trovare applicazione anche nella stru- mentazione per la misura di planarità e di forma di superfici ottiche in quanto ha prestazioni superiori, in termini di sensibilità ed accuratezza di misura, rispetto agli algoritmi attualmente in uso.
4
info:eu-repo/semantics/article
262
Balsamo, A; Cavagnero, G; Mana, G; Massa, E
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
none
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/453128
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