Analysis of factors that regulate the peak fittings of XPS Ce3d spectra of cerium oxides

Comment on "Thickness-dependent morphology, microstructure, adsorption and surface free energy of sputtered CeO2 films", by Tan et al. Ceram. Int. 46 (2020) 13925-13931

Ernesto Paparazzo
2021

Abstract

Analysis of factors that regulate the peak fittings of XPS Ce3d spectra of cerium oxides
2021
XPS Cerium oxides
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/458867
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