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Analysis of factors that regulate the peak fittings of XPS Ce3d spectra of cerium oxides

Comment on "Thickness-dependent morphology, microstructure, adsorption and surface free energy of sputtered CeO2 films", by Tan et al. Ceram. Int. 46 (2020) 13925-13931

Ernesto Paparazzo
2021

Abstract

Analysis of factors that regulate the peak fittings of XPS Ce3d spectra of cerium oxides
2021
Istituto di Struttura della Materia - ISM - Sede Roma Tor Vergata
Inglese
WOS:000602976700005
47
4361
4362
2
2-s2.0-85092668257
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0272884220329989
Sì, ma tipo non specificato
Sì
XPS Cerium oxides
Internazionale
Elettronico
1
info:eu-repo/semantics/article
262
Paparazzo, Ernesto
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
none
01.01 Articolo in rivista
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/458867
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