Viene sinteticamente descritto il processo di determinazione degli Atomic sensitive factors (ASF) utilizzati in Istp. Viene anche data la descrizione di un applicativo appositamente sviluppato che permette di risalire dalle intensità e dagli ASF alle concentrazioni degli elementi chimici. Infine si presenta una nota metodologica che, se opportunamente sviluppata, dovrebbe consentire la definizione delle deviazioni standard delle concentrazioni degli elementi chimici.
Determinazione dei fattori di sensibilità per l’XPS in ISTP
Ghezzi F
;De Vecchi L
;Laguardia L
;Ripamonti F
2024
Abstract
Viene sinteticamente descritto il processo di determinazione degli Atomic sensitive factors (ASF) utilizzati in Istp. Viene anche data la descrizione di un applicativo appositamente sviluppato che permette di risalire dalle intensità e dagli ASF alle concentrazioni degli elementi chimici. Infine si presenta una nota metodologica che, se opportunamente sviluppata, dovrebbe consentire la definizione delle deviazioni standard delle concentrazioni degli elementi chimici.File in questo prodotto:
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