CNR Institutional Research Information System

Analysis of Resonant Soft X-ray Reflectivity of Anisotropic Layered Materials

Pasquali, L.;Mahne, N.;Giglia, A.;Verna, A.;Capelli, R.;Mezzadri, F.;Nannarone, S.
2021
2021
Istituto Officina dei Materiali - IOM -
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/474446
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ente

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 5
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact