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This technical article studies the reliability of Power MOSFETs when they are subjected to harsh power cycling

Power MOSFETs reliability during harsh power cycling and the importance of the temperature control technique

Giuseppe Consentino
2011

Abstract

This technical article studies the reliability of Power MOSFETs when they are subjected to harsh power cycling
2011
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
978-3-8007-3344-6
Power MOSFETs
power cycling
reliability
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/520542
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