CNR Institutional Research Information System

This paper analizes an anomalous failure mechanism detected on the latest generation of low voltage Power MOSFETs used in high current applications

Safe Operating Limits In Linear Mode for the latest generation of Low Voltage Power MOSFETs: a mathematicalmodel and experimental results

Giuseppe Consentino;
2005

Abstract

This paper analizes an anomalous failure mechanism detected on the latest generation of low voltage Power MOSFETs used in high current applications
2005
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
392864341X
Power MOSFETs
SOA
FBSOA
Linear Zone
Characterization
Thermal instability
04.01 Contributo in Atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/520558
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ente

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact