CNR Institutional Research Information System

Interrelation of bond configuration and optical properties of mc-Si thin films by spectroscopic ellipsometry

M Losurdo;G Bruno
2003
2003
Istituto di Nanotecnologia - NANOTEC
Inglese
Electrochemical. Soc. Proceed. Vol. 2003-08, p. 378-385 (2003)
Sì, ma tipo non specificato
2
none
M. Losurdo; G. Iannuzzi; P. Capezzuto; G. Bruno
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/53751
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