CNR Institutional Research Information System

Spectroscopic ellipsometry characterization of Interface reactivity in GaAs-based superlattices

M Losurdo;MM Giangregorio;G Bruno
2003
2003
Istituto di Nanotecnologia - NANOTEC
04.01 Contributo in Atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/53764
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact