CNR Institutional Research Information System

Spectroscopic ellipsometry characterization of Interface reactivity in GaAs-based superlattices

M Losurdo;MM Giangregorio;G Bruno
2003
2003
Istituto di Nanotecnologia - NANOTEC
Int. Conf. On Spectroscopic ellipsometry, ICSE-3, July 6-11, 2003, Vienna.
Sì, ma tipo non specificato
Vienna
4
none
Losurdo, M; Giuva, D; Giangregorio, Mm; Bruno, G
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/53764
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