CNR Institutional Research Information System

Structural and Optical Characterization of GaN heteroepitaxial Films on SiC Substrates

M Losurdo;G Bruno
2005
2005
Istituto di Nanotecnologia - NANOTEC
E-MRS, Symposium-P
Sì, ma tipo non specificato
Strasbourg, France
2
none
M. Morse; P. Wu; S. Choi; T.H. Kim. A.S. Brown; M. Losurdo; G. Bruno
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/53820
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