Nell'ambito delle analisi Leis è stata considerata la formula semi-empirica di Eckstein nel caso di incidenza normale degli ioni alla superficie concentrandosi sul binomio D-W. Per questa fattispecie è stata condotta un’analisi statistica al fine di ricalcolare i parametri di fitting unitamente alla loro matrice di varianza-covarianza sia attraverso la simulazione MCMC sia attraverso il metodo dei minimi quadrati. Si conclude che l’autore della formula semi-empirica ha considerato un sottoinsieme dei punti sperimentali della figura del suo studio (citato in bibliografia)
Utilizzo della formula di Eckstein per il caso D su W. Scelta dei parametri per il fitting e analisi statistica
De Vecchi Luca
;Ghezzi Francesco
2025
Abstract
Nell'ambito delle analisi Leis è stata considerata la formula semi-empirica di Eckstein nel caso di incidenza normale degli ioni alla superficie concentrandosi sul binomio D-W. Per questa fattispecie è stata condotta un’analisi statistica al fine di ricalcolare i parametri di fitting unitamente alla loro matrice di varianza-covarianza sia attraverso la simulazione MCMC sia attraverso il metodo dei minimi quadrati. Si conclude che l’autore della formula semi-empirica ha considerato un sottoinsieme dei punti sperimentali della figura del suo studio (citato in bibliografia)File in questo prodotto:
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