CNR Institutional Research Information System

Structural inhomogeneity of Ge-doped amorphous SiO2 probed by photoluminescence lifetime measurements under synchrotron radiation

2006
2006
Istituto di Chimica della Materia Condensata e di Tecnologie per l'Energia - ICMATE
10th Europhysical Conference on Defects in Insulating Materials
Sì, ma tipo non specificato
Milano,10-14 luglio 2006
0
none
Agnello S.; Buscarino G.; Cannas M.; Messina F.; Grandi S.; Magistris A
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/57407
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