Viene presentato il nuovo sistema portatile XPIXE-a basato su una sorgente di raggi X e particelle alfa emessi da 244Cm. Il sistema effettua simultaneamente misure PIXE e XRF; permettendo così di rivelare con buona efficienza, sia elementi leggeri che medio-pesanti.Vengono forniti alcuni esempi di applicazione sulla analisi quantitativa del ricoprimento nero in ceramica attica e sulla analisi qualitativa su una coppa bronzea di probabile provenienza egea.
Il nuovo spettrometro xpixe: analisi qualitative e quantitative nel settore dei beni culturali
FP Romano
2007-01-01
Abstract
Viene presentato il nuovo sistema portatile XPIXE-a basato su una sorgente di raggi X e particelle alfa emessi da 244Cm. Il sistema effettua simultaneamente misure PIXE e XRF; permettendo così di rivelare con buona efficienza, sia elementi leggeri che medio-pesanti.Vengono forniti alcuni esempi di applicazione sulla analisi quantitativa del ricoprimento nero in ceramica attica e sulla analisi qualitativa su una coppa bronzea di probabile provenienza egea.File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
