CNR Institutional Research Information System

Investigation of the impacts of channel length, fin width on Si-NC SOI-FinFlash memory characteristics

Lombardo S;Bongiorno C;
2007
2007
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
International Conference on Memory Technology and Design
Sì, ma tipo non specificato
Peninsula of Giens (France)
13
none
Jahan, C; Razafindramora, J; Perniola, L; Gély, M; Vizioz, C; Toffoli, A; Allain, F; Lombardo, S; Bongiorno, C; Reimbold, G; Boulanger, F; De Salvo, B...espandi
273
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04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/69280
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