CNR Institutional Research Information System

X-Ray diffraction and SEM investigation of the crystal quality of GaAs/Ge heterostructures

Bocchi C;Lazzarini L;
1991
1991
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
Inglese
CULLIS, AG; LONG, NJ
MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS 1991
Conference on Microscopy of Semiconducting Materials 1991
117
657
660
0-85498-406-2
TAYLOR & FRANCIS LTD
4 PARK SQUARE, MILTON PARK, ABINGDON OX14 4RN, OXON
REGNO UNITO DI GRAN BRETAGNA
Sì, ma tipo non specificato
25-28 March 1991
Oxford (UK)
MISFIT DISLOCATIONS
EFFICIENCY
Conference: CONF ON MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS Location: OXFORD UNIV, OXFORD, ENGLAND Date: MAR 25-28, 1991 Sponsor(s): INST PHYS, ELECTR MICROSCOPY & ANAL GRP; ROYAL MICROSCOP SOC; MAT RES SOC; BRIT TELECOM RES LABS; USN, OFF NAVAL RES, EUROPEAN OFF; SHARP LABS EUROPE; SIEMENS RES LAB
WOS:A1991BV30N00131
1
none
Bocchi C; Bollani B; Franzonsi P; Lazzarini L; Passoni D; Timo G
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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