CNR Institutional Research Information System

Effective channel length and parasitic resistance determination in non self-aligned low-temperature polycrystalline silicon thin film transistors

Valletta A;M Rapisarda;L Mariucci;A Pecora;G Fortunato;
2008
2008
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
E-MRS 2008 Spring Meeting (May 26- 30, 2008, Strasbourg, France)
Strasburgo
9
none
Valletta, A; Rapisarda, M; Mariucci, L; Pecora, A; Fortunato, G; Caligiore, C; Fontana, E; Tramontana, F; Leonardi, S
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/69352
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact