CNR Institutional Research Information System

The effects of boundary conditions on dopant region imaging in scanning electron microscopy

Merli PG;Morandi V
2005
2005
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Microscopy of Semiconducting Materials
Sì, ma tipo non specificato
3
none
Ferroni, M; Merli, Pg; Morandi, V
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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