X-ray Techniques for Advanced Materials, Nanostructures and Thin Films: from Laboratory Sources to Synchrotron Radiation Proceedings of the EMRS 2009 Spring Meeting - Symposium R Strasbourg, France, June 8-June 12 2009

Heun S
2010

2010
Istituto Nanoscienze - NANO
1
info:eu-repo/semantics/article
262
Boscherini F.; Birkholz M.; Buffiere J.Y.; Chateigner D.; Fewster P.F.;Heun S.
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
none
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/73234
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact