Novel method for the measure of STEM specimen thickness by HAADF imaging

	Anno
	
				2007
			
	Strutture organizzative
	
				INFM
			
	Appare nelle tipologie:
	
				04.01 Contributo in Atti di convegno

File in questo prodotto:

Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/73996

CNR Institutional Research Information System