CNR Institutional Research Information System

Reliability assessment of discrete-trap memories for NOR applications

2005
2005
Istituto di fotonica e nanotecnologie - IFN
International Reliability Physics Sinposium
No
0
none
C. Monzio Compagnoni; D. Ielmini; A.S. Spinelli; A. L. Lacaita; R. Sotgiu
273
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04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/76033
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