CNR Institutional Research Information System

Misura dello spessore e dell indice di rifrazione di lamine trasparenti sottili mediante un interferometro a spostamento laterale e a scansione di lunghezza d onda

P Maddaloni;S De Nicola
2004
2004
Istituto di Scienze Applicate e Sistemi Intelligenti "Eduardo Caianiello" - ISASI
laser
scansione in lunghezza d'onda
materiali trasparenti
ottica
04.01 Contributo in Atti di convegno
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