CNR Institutional Research Information System

Misura dello spessore e dell indice di rifrazione di lamine trasparenti sottili mediante un interferometro a spostamento laterale e a scansione di lunghezza d onda

P Maddaloni;S De Nicola
2004
2004
Istituto di Scienze Applicate e Sistemi Intelligenti "Eduardo Caianiello" - ISASI
Elettroottica 2004: 8° Convegno Nazionale“ Strumentazione e metodi di misura elettroottici”,15-17 Giugno 2004, Pavia, Italia
Sì, ma tipo non specificato
Pavia,Italy
laser
scansione in lunghezza d'onda
materiali trasparenti
ottica
7
none
Maddaloni, P; Ferraro, P; De Natale, P; Coppola, G; Gioffrè, M; Iodice, M; DE NICOLA, Sergio
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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