CNR Institutional Research Information System

Physical modeling of single-trap RTS statistical distribution in Flash memories,

2008
2008
Istituto di fotonica e nanotecnologie - IFN
2008 International Reliability Physics Symposium, IRPS
Sì, ma tipo non specificato
Phoenix, Arizona
6
none
Ghetti, A; Bonanomi, M; C Monzio Compagnoni, ; Spinelli, As; Lacaita, Al; Visconti, A
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/79999
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