CNR Institutional Research Information System

Accelerated testing of rf-mems contact degradation through radiation sources

2010
2010
Istituto di fotonica e nanotecnologie - IFN
IEEE International Reliability Physics Symposium
Anaheim, California
8
none
Tazzoli, A; Barbato, M; Giliberto, V; Monaco, G; Gerardin, S; Nicolosi, P; Paccagnella, A; Meneghesso, G
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/80149
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