Optical subsystem characterization in laboratory

P Zuppella;AJ Corso;MG Pelizzo;
2011

2011
Istituto di fotonica e nanotecnologie - IFN
SPIE Proc. EUV and X-Ray Optics: Synergy between Laboratory and Space II
SPIE EUV and X-Ray Optics: Synergy between Laboratory and Space II
8076
80760B
Praga
10
none
Nicolosi, P; Zuppella, P; Corso, Aj; Polito, V; Pelizzo, Mg; Mariscal, Jf; Rouanet, N; Mine, Po; Quémerais, E; Maria, Jl
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/80183
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