Theoretical study of misfit dislocations at the SiC/Si(001) interface

Cicero G;Catellani A
2003

2003
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
22nd International Conference on Defects in Semiconductors
Sì, ma tipo non specificato
Aarhus (Danimarca)
2
none
Cicero G.; Pizzagalli L.; Thilly L.; Pailloux F.; Catellani A.
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
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