CNR Institutional Research Information System

Measuring the permittivity of thin samples in the X band: a thickness-independent technique

R Olmi;C Riminesi
2002
2002
Istituto per la Conservazione e la Valorizzazione dei Beni Culturali - ICVBC - Sede Sesto Fiorentino
Istituto di Fisica Applicata - IFAC
Istituto di Scienze del Patrimonio Culturale - ISPC
04.02 Abstract in Atti di convegno
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