SiO2-SiC Core-shell nanowire: Optical, structural and interface analysis

F Fabbri;F Rossi;L Aversa;R Verucchi;
2010

2010
Istituto di fotonica e nanotecnologie - IFN
BIAMS 2010 10th International Workshop on Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors
Halle, Saale, Germania
none
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
Fabbri, F; Rossi, F; Attolini, G; Salviati, G; Iannotta, S; Aversa, L; Verucchi, R; Nardi, M; Fukata, N; Dierre, B; Sekiguchi, T
275
04 Contributo in convegno::04.03 Poster in Atti di convegno
11
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