CNR Institutional Research Information System

X-ray absorption spectroscopy on Cr and Ni surroundings to study the metal induced crystallization of amorphous Silicon thin films

F Rocca
2011
2011
Istituto di fotonica e nanotecnologie - IFN
Metal induced crystallization
Silicon
X-ray Absorption spectroscopy (EXAFS, XANES)
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/86842
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