CNR Institutional Research Information System

Scanning Probe Microscopy Applied to Ferroelectric Materials

Scanning Probe Microscopy Applied to Ferroelectric Materials

M Labardi;M Allegrini
2006

Abstract

Scanning Probe Microscopy Applied to Ferroelectric Materials
2006
INFM
Inglese
B. Bhushan, H. Fuchs
Applied Scanning Probe Methods III
217
978-3-540-26910-6
Springer-Verlag
Berlin
GERMANIA
ferroelectrics
scanning probe microscopy
2
02 Contributo in Volume::02.01 Contributo in volume (Capitolo o Saggio)
268
none
O. Tikhomirov; M. Labardi; M. Allegrini
info:eu-repo/semantics/bookPart
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/86977
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