CNR Institutional Research Information System

Elastic stress relaxation in hrem specimens of strained semiconductor heterostructures

L De Caro;E Carlino;
1995
1995
Istituto di Cristallografia - IC
Istituto Officina dei Materiali - IOM -
Inglese
proc. of the XX congress of Italian Microscopy Society
XX congress of Italian Microscopy Society
Sì, ma tipo non specificato
September 11-14 1995
Rimini (I)
4
none
DE CARO, Liberato; Giuffrida, A; Carlino, E; Tapfer, L
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/8705
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