CNR Institutional Research Information System

Estimation and Uncertainty in Metrology

2001
2001
IMGC - Istituto di metrologia "Gustavo Colonnetti"
IOS Press
Amsterdam
PAESI BASSI
metrologia generale
stima di parametri
incertezza
metodi statistici
Si tratta del contributo dell'A alla scuola di Varenna 2000, organizzata dalla Società italiana di fisica e dedicata alla metrologia.
0
02 Contributo in Volume::02.01 Contributo in volume (Capitolo o Saggio)
268
none
W. Bich
info:eu-repo/semantics/bookPart
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/88134
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