CNR Institutional Research Information System

"A comparison of two methods for measuring the nonlinearity of infrared radiation thermometers"

2003
2003
IMGC - Istituto di metrologia "Gustavo Colonnetti"
American Institute of Physics
Melville [NY]
STATI UNITI D'AMERICA
termometria
fotorivelatori
nonlinearità
fotodiodo al Si
fotodiodo InGaAs
Conoscere la non linearità dei fotorivelatori è necessario in radiometria e termometria a radiazione. I fenomeni che gli studi effettuati hanno evidenziato risultano di grande utilità sia nella progettazione di strumentazione (nei termometri con rivelatore InGaAs lo schema ottico deve prevedere che il rivelatore sia “underfilled”) sia per quanto riguarda la predisposizione dei setup di misura della nonlinearità (il metodo della doppia apertura può risultare più critico). I principali beneficiari di tali risultati sono non solo gli istituti di ricerca che realizzano strumenti di precisione, ma anche l’industria della strumentazione, in particolare di quella di alto livello tecnologico. Il lavoro è stato presentato al più importante evento mondiale in Termometria, il Simposio “Temperature” a Chicago nel 2002; si svolge ogni dieci anni ed i suoi Atti rappresentano il punto di riferimento sia per il mondo scientifico sia per quello applicativo-industriale.
2-s2.0-85019627186
0
02 Contributo in Volume::02.01 Contributo in volume (Capitolo o Saggio)
268
none
Battuello M. ; Bloembergen P. ; Girard F. ; Ricolfi T.
info:eu-repo/semantics/bookPart
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/88137
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