CNR Institutional Research Information System

EBIC study of extended defects in InGaAs/InGaAs strain-balanced MQWs for thermophotovoltaic applications

Mazzer M;Nasi L;Salviati G;Lazzarini L;
2003
2003
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
0750309792
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/95392
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