CNR Institutional Research Information System

EBIC study of extended defects in InGaAs/InGaAs strain-balanced MQWs for thermophotovoltaic applications

Mazzer M;Nasi L;Salviati G;Lazzarini L;
2003
2003
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
P.A. Midgley
Microscopy of Semiconducting Materials 2003
MSM XIII - 13th Conference on Microscopy of Semiconducting Materials
581
584
0750309792
Sì, ma tipo non specificato
Cambridge (UK)
10
none
Tundo, S; Mazzer, M; Nasi, L; Salviati, G; Lazzarini, L; Torsello, G; Rohr, C; Connolly, J; Abbott, P; Barnham, Kwj
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/95392
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