Characterization of CZT crystals grown by the Boron Oxide Encapsulated Vertical Bridgman technique for the preparation of X-ray imaging detectors"
Zappettini A;Zha M;Calestani D;
2009
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.