CNR Institutional Research Information System

Study of the Internal E-Field in Planar and Pixellated CdZnTe Detectors

2010
2010
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
IEEE 2010 NSS MIC RTSD
Knoxville, Tennessee, USA
CdZnTe
X-ray detectors
none
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
Camarda, G; Bolotnikov, A; Cui, J; Gul, R; Hossain, A; Kim, K; Marchini, L; L, Xu; Yang, G; James, R
275
04 Contributo in convegno::04.03 Poster in Atti di convegno
10
04.03 Poster in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/99687
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